顯微型陆续在流低溫恆溫器FLV-80M
FLV-80M 顯微型陆续在流低溫恆溫器實現溫度範圍廣:從4K到450K,減壓降溫可至~2K,作距離短:配不同樣品座,樣品可無線接近窗口,樣品在真空中,採用熱傳導冷卻,樣品空間緊湊型設計,可滿足對工作距離要求較高的各種電學或顯微實驗,製冷劑消耗量低,使用液氦從室溫降至5K僅需消耗0.4L液氦,使用液氮保持80K消耗量為0.1L/h。
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FLV-80M 顯微型陆续在流低溫恆溫器實現溫度範圍廣:從4K到450K,減壓降溫可至~2K,作距離短:配不同樣品座,樣品可無線接近窗口,樣品在真空中,採用熱傳導冷卻,樣品空間緊湊型設計,可滿足對工作距離要求較高的各種電學或顯微實驗,製冷劑消耗量低,使用液氦從室溫降至5K僅需消耗0.4L液氦,使用液氮保持80K消耗量為0.1L/h。
FLV-80M 顯微型陆续在流低溫恆溫器可以實現4K~450K(液氦)以及78K~450K(液氮)溫度範圍內的變溫和控溫。樣品室擁有獨立蓋板,在需要更換樣品時,可快速打開樣品室。為了滿足客戶的電學測試需要,低溫恆溫器可以根據實驗需要配置各種電學引線(如Ph-Br線、同軸電纜和三同軸電纜等、電阻樣品座或探針樣品座)。恆溫器標配頂部和底部透明熔融石英窗口,透射波長範圍從紫外到近紅外,可選配其它窗口材料,滿足從遠/中紅外、紫外到X射線的寬譜範圍的測試。
顯微型恆溫器是專門為顯微鏡、成像和高空間解像度光致發光而設計的。典型應用包括光譜測試(PL 譜、FTIR 和 UV-Visible )、電學測試(電導率、霍爾效應)以及低溫成像、顯微鏡和組分測試等。低溫恆溫器的特殊構造给予了較短的工作距離(用於高倍光學系統),方便安裝在普通的顯微鏡載物台和平移台上。
系統特點:
• 溫度範圍廣:從4K到450K,減壓降溫可至~2K
• 工作距離短:配不同樣品座,樣品可無線接近窗口
• 樣品在真空中,採用熱傳導冷卻
• 樣品空間緊湊型設計,可滿足對工作距離要求較高的各種電學或顯微實驗
• 製冷劑消耗量低,使用液氦從室溫降至5K僅需消耗0.4L液氦,使用液氮保持80K消耗量為0.1L/h
• 標配2個光學窗口可視範圍25mm
• 配備溫度控制系統
• 支持標準光學樣品座、探針樣品座及電阻樣品座,多種樣品座可供選擇
• 樣品室採用獨立頂蓋設計,便於更換樣品
• 體積小巧便於易於集成到商用光譜儀設備中
參數和指標:
型號 | FLV-80M |
溫度範圍 | 4K~450K |
初始冷卻時間 | 15min到5K |
溫度穩定性 | ±50mk |
真空度 | ~10-5mbar(無製冷劑) |
樣品尺寸 | 1英寸 |
系統重量 | 4Kg |
光窗可視直徑 | 25mm |
標準窗口顺利获得範圍 | 185nm-2.1μm |