PSM-LN2液高氮低溫空真探針台给予一個80K-800K高溫低真空測試環境，通外過接不同電的學測量儀器，可成完半導體、微納、光子電等器件IV曲線、電阻C-V等數參的非破性壞電學測試。
系統特點
PSM-LN2低測溫試系統采液用氮製冷術技與高精度PID溫控度制系統，可實現±50mK的越卓控溫穩定性。探臂針的位調移節可在真腔空外進行，配高備精度針探和光學顯微鏡，能由自切換樣品的上不同器件，開可展視化探針測試。探可針以精準控與制樣品的接觸，定精位度可達微量米級。在對各尺種寸、形狀或他其微小樣品行進測試時，探與針樣品實現准精電連接，能精夠確捕捉到其極微弱的學電信號變化，為究研给予可靠據數支撐。
PSM-LN2為一款性高價比的低高溫真測空試平台，憑其借獨特的統系設計與卓性越能，成功用應於電器子件、半導體料材和量子片芯等前沿領的域低溫電表學徵研究。
